射線探傷檢測(cè)是指用X射線或γ射線穿透試件，以膠片作為記錄信息的器材的無損檢測(cè)方法，該方法是最基本的，應(yīng)用最廣泛的一種非破壞性檢驗(yàn)方法。

原理：射線能穿透肉眼無法穿透的物質(zhì)使膠片感光，當(dāng)X射線或r射線照射膠片時(shí)，與普通光線一樣，能使膠片乳劑層中的鹵化銀產(chǎn)生潛影，由于不同密度的物質(zhì)對(duì)射線的吸收系數(shù)不同，照射到膠片各處的射線強(qiáng)度也就會(huì)產(chǎn)生差異，便可根據(jù)暗室處理后的底片各處黑度差來判別缺陷。射線探傷對(duì)人體的危害性比較大，因此進(jìn)行檢測(cè)時(shí)要進(jìn)行清場(chǎng)，周圍30M內(nèi)最好不要有人，以免對(duì)人體輻射造成危害。

基本的操作流程是：檢測(cè)前的準(zhǔn)備——選擇透照工藝——現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)——暗室處理——底片評(píng)定，出具檢測(cè)報(bào)告.

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